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WI-2000

カテゴリ
Defect Inspection
概要(Overview)

The WI-2000 series inspects a variety of twodimensional (2D) items, such as the surface quality of the wafer, the quality of the wafer cutting or the 2D aspects of the bump.

現在の掲載品

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サービス

検査、保証、鑑定、ロジスティクス

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