メインコンテンツにスキップ
Moov logo

Moov Icon

WI-2000

カテゴリ
Defect Inspection
概要(Overview)

The WI-2000 series inspects a variety of twodimensional (2D) items, such as the surface quality of the wafer, the quality of the wafer cutting or the 2D aspects of the bump.

現在の掲載品

1

サービス

検査、保証、鑑定、ロジスティクス

トップ掲載リスト

このような製品をお持ちですか?
Moovに掲載品して、すぐに申し分ない購入者を見つけましょう。