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CI-5250

カテゴリ
Defect Inspection
概要(Overview)

Component Inspector, tray-based. CI-5150/5250 is a medium volume systems that perform 2D and 3D inspection of all devices that are handled in trays such as QFP, BGA, CSP and TSOP.

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サービス

検査、保証、鑑定、ロジスティクス

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