CI-T120S
概要（Overview）
The ICOS CI-T120S and ICOS CI-T130S systems offer 2D and 3D metrology and inspection for Flip-Chip packaging, combining bump inspection, substrate top and bottom surface inspection and substrate warpage inspection in one system.
現在の掲載品
0
サービス
検査、保証、鑑定、ロジスティクス
トップ掲載リスト
- 製品が見つかりません