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CI-T620

カテゴリ
Defect Inspection
概要(Overview)

The CI-T620 is a fully automated optical inspector of integrated circuit (IC) packages for 3D measurements and package quality with dual tapers for improved output. The new system is designed to offer superior inspection accuracy, reduced cost of ownership (CoO), and increased flexibility.

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検査、保証、鑑定、ロジスティクス

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