WI-2300
概要（Overview）
The ICOS WI-2200/2300, which perform 100% automated optical inspection and metrology of microelectronic devices on a variety of wafer substrates. This inspection system combines surface inspection and 2D bump inspection for semiconductor ICs, optoelectronics, advanced packaging, and MEMS.
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検査、保証、鑑定、ロジスティクス
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