説明
Fully Refurbished & Calibrated Automatic Calibration Flatscreen Monitor System Calibrated & Demonstrated Calibration Standard Wafer Included構成
TENCOR Surfscan 4500 Unpatterned Wafer Surface Inspection Tool Cassette to Cassette Handling of 3” – 6” Wafers New HeNe 2mW Laser, 632.8 nm Wavelength New HeNe Laser Power Supply 0.2 µ Particle Size SensitivityOEMモデルの説明
提供なしドキュメント
ドキュメントなし
KLA
SURFSCAN 4500
検証済み
カテゴリ
Defect Inspection
最終検証: 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態:
Refurbished
稼働ステータス:
不明
製品ID:
110911
ウェーハサイズ:
不明
ヴィンテージ:
1987
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
同様のリスト
すべて表示KLA
SURFSCAN 4500
カテゴリ
Defect Inspection
最終検証: 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態:
Refurbished
稼働ステータス:
不明
製品ID:
110911
ウェーハサイズ:
不明
ヴィンテージ:
1987
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
説明
Fully Refurbished & Calibrated Automatic Calibration Flatscreen Monitor System Calibrated & Demonstrated Calibration Standard Wafer Included構成
TENCOR Surfscan 4500 Unpatterned Wafer Surface Inspection Tool Cassette to Cassette Handling of 3” – 6” Wafers New HeNe 2mW Laser, 632.8 nm Wavelength New HeNe Laser Power Supply 0.2 µ Particle Size SensitivityOEMモデルの説明
提供なしドキュメント
ドキュメントなし