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市場 > Defect Inspection > KLA > SURFSCAN SP7

SURFSCAN SP7

カテゴリ
Defect Inspection
概要(Overview)

Surfscan SP7: Unpatterned wafer surface inspection system with DUV sensitivity and high throughput for IC, substrate and equipment manufacturing at the sub 1Xnm design nodes.

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検査、保証、鑑定、ロジスティクス

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