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市場 > Defect Inspection > KLA > PUMA 9650

PUMA 9650

カテゴリ
Defect Inspection
概要(Overview)

The Puma 9650 is a high-performance device that provides excursion monitoring in all die regions for memory and logic devices with a size of 28 nanometers or less. This advanced technology ensures reliable and accurate monitoring of your devices, helping to optimize their performance and efficiency.

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検査、保証、鑑定、ロジスティクス

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