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市場 > Defect Inspection > KLA > TERON SL650

TERON SL650

カテゴリ
Defect Inspection
概要(Overview)

The Teron SL650, a reticle inspection system that utilizes 193nm illumination and multiple STARlight technologies to assess incoming reticle quality, monitor reticle degradation and detect yield-critical reticle defects.

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サービス

検査、保証、鑑定、ロジスティクス

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