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説明
Wafer Inspection Equipment構成
構成なしOEMモデルの説明
For broadband optical defect inspection.ドキュメント
ドキュメントなし
KLA
2820
カテゴリ
Defect Inspection
最終検証： 30日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
83258
ウェーハサイズ：
12"/300mm
ヴィンテージ：
不明
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Available
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Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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