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8900

カテゴリ
Defect Inspection
概要(Overview)

In October 2009, KLA launched the 8900 defect inspection system, a new tool for the CMOS Image Sensor market. The 8900 is designed to enable capture of a wide variety of defect types, with adjustable sensitivity and throughput settings for cost-effective defect management from initial product development through volume production of color filter arrays.

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