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市場 > Defect Inspection > KLA > CANDELA 6300

CANDELA 6300

カテゴリ
Defect Inspection
概要(Overview)

Candela 6100 and 6300 series patented X-beam optical surface analyzers are the industry leaders in defect sensitivity and characterization for substrate and media manufacturing.

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検査、保証、鑑定、ロジスティクス

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