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市場 > Defect Inspection > KLA > TeraScan XR

TeraScan XR

カテゴリ
Defect Inspection
概要(Overview)

The TeraScan XR system for mask shop production of reticles for the 32nm node and above and our TeraFab products for reticle defect monitoring capability for IC fabs.

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検査、保証、鑑定、ロジスティクス

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