メインコンテンツにスキップ
Moov logo

Moov Icon
市場 > Defect Inspection > KLA > TeraScan XR

TeraScan XR

カテゴリ
Defect Inspection
概要(Overview)

The TeraScan XR system for mask shop production of reticles for the 32nm node and above and our TeraFab products for reticle defect monitoring capability for IC fabs.

現在の掲載品

0

サービス

検査、保証、鑑定、ロジスティクス

トップ掲載リスト

    製品が見つかりません
このような製品をお持ちですか?
Moovに掲載品して、すぐに申し分ない購入者を見つけましょう。