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市場 > Defect Inspection > KLA > Teron 630

Teron 630

カテゴリ
Defect Inspection
概要(Overview)

The Teron 630 incorporates advanced imaging modes, third generation database modeling and new detectors to enable defect inspection of optical and EUV reticles during both development phase and production at mask shops.

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サービス

検査、保証、鑑定、ロジスティクス

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