Teron SL670e
概要(Overview)
Teron™ SL670e: Inspection of EUV and optical (optional) reticles during chip manufacturing for 7nm/5nm design node IC technologies.
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検査、保証、鑑定、ロジスティクス
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Teron™ SL670e: Inspection of EUV and optical (optional) reticles during chip manufacturing for 7nm/5nm design node IC technologies.
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