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市場 > Defect Inspection > KLA > Teron SL670e

Teron SL670e

カテゴリ
Defect Inspection
概要(Overview)

Teron™ SL670e: Inspection of EUV and optical (optional) reticles during chip manufacturing for 7nm/5nm design node IC technologies.

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サービス

検査、保証、鑑定、ロジスティクス

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