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市場 > Defect Inspection > KLA > VisEdge CV300R-EP
KLA

VisEdge CV300R-EP

カテゴリ
Defect Inspection
概要（Overview）

Front-End Defect Inspection The VisEdge® CV300R-EP is a wafer edge metrology and inspection system that combines wafer edge profile, film edge metrology and edge defect inspection into one system.

現在の掲載品

1

サービス

検査、保証、鑑定、ロジスティクス

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