説明
Wafer Handling System for a Leica INS 2000 Defect Review System No Microscope is Included Cassette to Cassette Wafer Handling for up to 200mm Wafers SMC Digital Pressure Sensor 120V/230V, 50/60 Hz, P Max 400 VA CE Marked構成
構成なしOEMモデルの説明
提供なしドキュメント
ドキュメントなし
KLA / VISTEC / LEICA
INS2000
検証済み
カテゴリ
Defect Inspection
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
14788
ウェーハサイズ：
8"/200mm
ヴィンテージ：
1996
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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INS2000
カテゴリ
Defect Inspection
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
14788
ウェーハサイズ：
8"/200mm
ヴィンテージ：
1996
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Wafer Handling System for a Leica INS 2000 Defect Review System No Microscope is Included Cassette to Cassette Wafer Handling for up to 200mm Wafers SMC Digital Pressure Sensor 120V/230V, 50/60 Hz, P Max 400 VA CE Marked構成
構成なしOEMモデルの説明
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