説明
Microscope No missing parts Current Wafer size : 12構成
構成なしOEMモデルの説明
The INS3300 automated optical defect review and defect classification system incorporates UV and DUV optics for the highest resolution available on any optical review microscope. Fully automated and production-ready, the INS3300 defect classification system is user-friendly, ergonomic and reliable.ドキュメント
ドキュメントなし
KLA / VISTEC / LEICA
INS3300
検証済み
カテゴリ
Defect Inspection
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
Deinstalled
製品ID：
107078
ウェーハサイズ：
8"/200mm, 12"/300mm
ヴィンテージ：
不明
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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INS3300
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最終検証： 60日以上前
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状態：
Used
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製品ID：
107078
ウェーハサイズ：
8"/200mm, 12"/300mm
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不明
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The INS3300 automated optical defect review and defect classification system incorporates UV and DUV optics for the highest resolution available on any optical review microscope. Fully automated and production-ready, the INS3300 defect classification system is user-friendly, ergonomic and reliable.ドキュメント
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