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E25

カテゴリ
Defect Inspection
概要(Overview)

The new E25 System provides edge inspection for CMP, etch, clean, deposition, pre-RTP and final QA processes, and is designed to cope with the challenges of edge inspection, including curved surfaces, ever-changing bevel profiles, process variations and nuisance defects.

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サービス

検査、保証、鑑定、ロジスティクス

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