説明
Automatic Wafer Inspection Systems for 150mm Wafers, 3ea Available構成
構成なしOEMモデルの説明
提供なしドキュメント
ドキュメントなし
NIKON
OPTISTATION 3
検証済み
カテゴリ
Defect Inspection
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
54671
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
同様のリスト
すべて表示
NIKON
OPTISTATION 3
カテゴリ
Defect Inspection
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
54671
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
説明
Automatic Wafer Inspection Systems for 150mm Wafers, 3ea Available構成
構成なしOEMモデルの説明
提供なしドキュメント
ドキュメントなし