説明
説明なし構成
Specification: Wafer Size: 300mm (200mm compatible) Objective Magnification: 2.5x / 10x / 20x / 50x / 100x / 150x Inspection Modes: Brightfield (BF), Darkfield (DF) Macro Inspection: Surface Macro, Center Backside Macro, Perimeter Backside Macro Load Port: 2 FOUP (Side or Rear selectable) Wafer Transfer: Robotic handling, Vacuum chuck, Non-contact pre-alignment Peripherals: HDD included, Mouse & KeyboardOEMモデルの説明
OPTISTATION-3200 wafer inspection systemドキュメント
ドキュメントなし
カテゴリ
Defect Inspection
最終検証： 4日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
142259
ウェーハサイズ：
8"/200mm, 12"/300mm
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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NIKON
OPTISTATION-3200
カテゴリ
Defect Inspection
最終検証： 4日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
142259
ウェーハサイズ：
8"/200mm, 12"/300mm
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
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説明
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Specification: Wafer Size: 300mm (200mm compatible) Objective Magnification: 2.5x / 10x / 20x / 50x / 100x / 150x Inspection Modes: Brightfield (BF), Darkfield (DF) Macro Inspection: Surface Macro, Center Backside Macro, Perimeter Backside Macro Load Port: 2 FOUP (Side or Rear selectable) Wafer Transfer: Robotic handling, Vacuum chuck, Non-contact pre-alignment Peripherals: HDD included, Mouse & KeyboardOEMモデルの説明
OPTISTATION-3200 wafer inspection systemドキュメント
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