説明
説明なし構成
構成なしOEMモデルの説明
The TMAP NST is a non contact full field metrology solution based on optical microscopy enabling surface topography measurements at the nano scale.ドキュメント
ドキュメントなし
UNITY SEMICONDUCTOR / HSEB
TMAP-NST
検証済み
カテゴリ
Defect Inspection
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
105930
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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