説明
Metrology / inspection system構成
Meas System Automated Wafer Handling (Qty 2) FOUP Factory Interface Process: Wafer Inspection Tool Software Version: TC*1.15.5/10.2.00 CIM: SECS/GEMOEMモデルの説明
提供なしドキュメント
ドキュメントなし
カテゴリ
Defect Inspection
最終検証： 6日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
154827
ウェーハサイズ：
12"/300mm
ヴィンテージ：
2012
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
HSEB / ZEISS
ODIN-A30
カテゴリ
Defect Inspection
最終検証： 6日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
154827
ウェーハサイズ：
12"/300mm
ヴィンテージ：
2012
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
説明
Metrology / inspection system構成
Meas System Automated Wafer Handling (Qty 2) FOUP Factory Interface Process: Wafer Inspection Tool Software Version: TC*1.15.5/10.2.00 CIM: SECS/GEMOEMモデルの説明
提供なしドキュメント
ドキュメントなし