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FOCUS FE III

カテゴリ
Elipsometry
概要(Overview)

FOCUS FE III system provides a low cost 100 to 200 millimeters automated ellipsometer using our dual wavelength Focused Beam technology. It directly measures sample wafers with a small spot at multiple angles of incidence.

現在の掲載品

3

サービス

検査、保証、鑑定、ロジスティクス

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