説明
説明なし構成
構成なしOEMモデルの説明
FOCUS FE III system provides a low cost 100 to 200 millimeters automated ellipsometer using our dual wavelength Focused Beam technology. It directly measures sample wafers with a small spot at multiple angles of incidence.ドキュメント
ドキュメントなし
カテゴリ
Elipsometry
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
125085
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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ONTO / RUDOLPH / AUGUST
FOCUS FE III
カテゴリ
Elipsometry
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
125085
ウェーハサイズ：
不明
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不明
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FOCUS FE III system provides a low cost 100 to 200 millimeters automated ellipsometer using our dual wavelength Focused Beam technology. It directly measures sample wafers with a small spot at multiple angles of incidence.ドキュメント
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