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TERADYNE J750EX-HD
    説明
    説明なし
    構成
    2048 Test Head (16 HSD slot), 1x HDCUB, Tera1, MP936 Optional)
    OEMモデルの説明
    The J750Ex-HD offers the lowest cost test solution for uncompromised test quality of less complex mixed signal devices. The J750Ex-HD is well-known for its ‘zero footprint’ design minimizing use of valuable manufacturing floor space. The scalability of the test system, to 2048 multifunction pins and data rates up 400 MHz/800 Mbps, makes it ideal for low-cost devices with increasing feature integration.
    ドキュメント

    ドキュメントなし

    TERADYNE

    J750EX-HD

    verified-listing-icon

    検証済み

    カテゴリ
    Final Test

    最終検証: 60日以上前

    主なアイテムの詳細

    状態:

    Used


    稼働ステータス:

    不明


    製品ID:

    90799


    ウェーハサイズ:

    不明


    ヴィンテージ:

    不明


    Have Additional Questions?
    Logistics Support
    Available
    Money Back Guarantee
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
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    TERADYNE J750EX-HD

    TERADYNE

    J750EX-HD

    Final Test
    ヴィンテージ: 0状態: 中古
    最終確認60日以上前

    TERADYNE

    J750EX-HD

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    検証済み
    カテゴリ
    Final Test
    最終検証: 60日以上前
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    主なアイテムの詳細

    状態:

    Used


    稼働ステータス:

    不明


    製品ID:

    90799


    ウェーハサイズ:

    不明


    ヴィンテージ:

    不明


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    Available
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    Available
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    Available
    説明
    説明なし
    構成
    2048 Test Head (16 HSD slot), 1x HDCUB, Tera1, MP936 Optional)
    OEMモデルの説明
    The J750Ex-HD offers the lowest cost test solution for uncompromised test quality of less complex mixed signal devices. The J750Ex-HD is well-known for its ‘zero footprint’ design minimizing use of valuable manufacturing floor space. The scalability of the test system, to 2048 multifunction pins and data rates up 400 MHz/800 Mbps, makes it ideal for low-cost devices with increasing feature integration.
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    Final Testヴィンテージ: 0状態: 中古最終検証:60日以上前
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