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構成なしOEMモデルの説明
Expida 1255 wafer DualBeam system, FEI: Ultra-High-Resolution Analysis - Following the success of its Expida 1255 wafer DualBeam system for semiconductor labs, FEI Company has introduced the next-generation tool in the product family, the Expida 1255S.ドキュメント
ドキュメントなし
THERMOFISHER SCIENTIFIC / FEI / PHILLIPS
EXPIDA 1255
検証済み
カテゴリ
Inspection Equipment
最終検証: 30日以上前
主なアイテムの詳細
状態:
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID:
106118
ウェーハサイズ:
不明
ヴィンテージ:
不明
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