説明
説明なし構成
・Light source; argon-ion laser (λ = 488 nm, and 20 mW) detection method; scattered light detection method; spiral scanning method maximum detection sensitivity (practical measurable particle size); 0.100 μm dynamic range; 0.100 to 5.153 μm (calibrated with standard particles) detection reproducibility; (σn/X) × 100 with 1% or less cleanliness of equipment; 0.5 or less with a total number of counts of 0.100 μm or moreOEMモデルの説明
提供なしドキュメント
ドキュメントなし
TAKANO / TOPCON
WM-1500
検証済み
カテゴリ
Mask Inspection
最終検証: 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態:
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID:
26025
ウェーハサイズ:
6"/150mm, 8"/200mm
ヴィンテージ:
1997
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Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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不明
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・Light source; argon-ion laser (λ = 488 nm, and 20 mW) detection method; scattered light detection method; spiral scanning method maximum detection sensitivity (practical measurable particle size); 0.100 μm dynamic range; 0.100 to 5.153 μm (calibrated with standard particles) detection reproducibility; (σn/X) × 100 with 1% or less cleanliness of equipment; 0.5 or less with a total number of counts of 0.100 μm or moreOEMモデルの説明
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