説明
Wafer Characterization構成
構成なしOEMモデルの説明
The WaferCheck 7000 series of products are flexible, modular systems capable of automatically characterizing, inspecting and sorting semiconductor wafers. The WaferCheck 7000, the first large-scale, automated metrology system for the wafer manufacturing market.ドキュメント
ドキュメントなし
カテゴリ
Metrology
最終検証： 14日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
147580
ウェーハサイズ：
6"/150mm
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
KLA / ADE
WAFERCHECK 7000
カテゴリ
Metrology
最終検証： 14日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
147580
ウェーハサイズ：
6"/150mm
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
説明
Wafer Characterization構成
構成なしOEMモデルの説明
The WaferCheck 7000 series of products are flexible, modular systems capable of automatically characterizing, inspecting and sorting semiconductor wafers. The WaferCheck 7000, the first large-scale, automated metrology system for the wafer manufacturing market.ドキュメント
ドキュメントなし