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A new wafer flatness and shape metrology tool for 300mm and advanced 200mm production, the WaferSight measurement precision allows wafer and device manufacturers to meet ITRS metrology requirements down to the 35nm generation. Utilizing optical technologies, the WaferSight system extends ADE’s market presence in wafer dimensional metrology.ドキュメント
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SELLER
カテゴリ
Metrology
最終検証： 60日以上前
Buyer pays 12% premium of final sale price
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
73906
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
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Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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KLA / ADE
WAFERSIGHT
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