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KLA / ADE WAFERSIGHT
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    OEMモデルの説明
    A new wafer flatness and shape metrology tool for 300mm and advanced 200mm production, the WaferSight measurement precision allows wafer and device manufacturers to meet ITRS metrology requirements down to the 35nm generation. Utilizing optical technologies, the WaferSight system extends ADE’s market presence in wafer dimensional metrology.
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    KLA / ADE

    WAFERSIGHT

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    検証済み

    カテゴリ
    Metrology

    最終検証: 60日以上前

    主なアイテムの詳細

    状態:

    Used


    稼働ステータス:

    不明


    製品ID:

    73906


    ウェーハサイズ:

    不明


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    不明

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    ヴィンテージ: 0状態: 中古
    最終確認60日以上前

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    Metrology
    最終検証: 60日以上前
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    Metrologyヴィンテージ: 0状態: 中古最終検証: 60日以上前
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