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FRT MicroProf 200 TTV
    説明
    説明なし
    構成
    FRT MPR200 TTV MHU 4 Film Thickness measurement system -Vacuum wafer chuck for 150mm and 200mm wafer -CWL spectrometer 4kHz -CWL 600µm sensor -CWL FT (10µm) sensor head -MHU (wafer handing unit) for 150mm and 200mm Semi standard wafer -Prealigner -Acquire Automation XT software packages: Film thickness; Step height; -Bumps measurement (height, coplanarity, diameter); Roughness;
    OEMモデルの説明
    automated Non Contact Wafer Metrology Tool
    ドキュメント

    ドキュメントなし

    FRT

    MicroProf 200 TTV

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    検証済み

    カテゴリ
    Metrology

    最終検証： 2日前

    主なアイテムの詳細
    状態：

    Used

    稼働ステータス:

    不明

    製品ID：

    114081

    ウェーハサイズ：

    6"/150mm, 8"/200mm

    ヴィンテージ：

    2011

    Logistics Support
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
    同様のリスト
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    FRT MicroProf 200 TTV

    FRT

    MicroProf 200 TTV

    Metrology
    ヴィンテージ： 2011状態： 中古
    最終確認2日前

    FRT

    MicroProf 200 TTV

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    検証済み
    カテゴリ
    Metrology
    最終検証： 2日前
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    主なアイテムの詳細
    状態：

    Used

    稼働ステータス:

    不明

    製品ID：

    114081

    ウェーハサイズ：

    6"/150mm, 8"/200mm

    ヴィンテージ：

    2011

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    Available
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    Available
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    構成
    FRT MPR200 TTV MHU 4 Film Thickness measurement system -Vacuum wafer chuck for 150mm and 200mm wafer -CWL spectrometer 4kHz -CWL 600µm sensor -CWL FT (10µm) sensor head -MHU (wafer handing unit) for 150mm and 200mm Semi standard wafer -Prealigner -Acquire Automation XT software packages: Film thickness; Step height; -Bumps measurement (height, coplanarity, diameter); Roughness;
    OEMモデルの説明
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