説明
説明なし構成
FRT MPR200 TTV MHU 4 Film Thickness measurement system -Vacuum wafer chuck for 150mm and 200mm wafer -CWL spectrometer 4kHz -CWL 600µm sensor -CWL FT (10µm) sensor head -MHU (wafer handing unit) for 150mm and 200mm Semi standard wafer -Prealigner -Acquire Automation XT software packages: Film thickness; Step height; -Bumps measurement (height, coplanarity, diameter); Roughness;OEMモデルの説明
automated Non Contact Wafer Metrology Toolドキュメント
ドキュメントなし
FRT
MicroProf 200 TTV
検証済み
カテゴリ
Metrology
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
114081
ウェーハサイズ：
6"/150mm, 8"/200mm
ヴィンテージ：
2011
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
FRT
MicroProf 200 TTV
カテゴリ
Metrology
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
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114081
ウェーハサイズ：
6"/150mm, 8"/200mm
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FRT MPR200 TTV MHU 4 Film Thickness measurement system -Vacuum wafer chuck for 150mm and 200mm wafer -CWL spectrometer 4kHz -CWL 600µm sensor -CWL FT (10µm) sensor head -MHU (wafer handing unit) for 150mm and 200mm Semi standard wafer -Prealigner -Acquire Automation XT software packages: Film thickness; Step height; -Bumps measurement (height, coplanarity, diameter); Roughness;OEMモデルの説明
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