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KLA SpectraCD-XT
    説明
    説明なし
    構成
    Model: SpectraCD-XTS+ N40~013
    OEMモデルの説明
    In February 2006, KLA introduced the SpectraCD-XT—our fourth-generation of inline optical CD metrology systems for advanced patterning process control at the 90nm and 65nm nodes. SpectraCD-XT is a non-destructive dedicated CD and profile metrology system built on our high-throughput, production-proven Archer platform. The tool is the only high performance spectroscopic ellipsometry (SE)-based
    ドキュメント

    ドキュメントなし

    KLA

    SpectraCD-XT

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    検証済み

    カテゴリ

    Metrology
    最終検証： 60日以上前
    主なアイテムの詳細
    状態：

    Used

    稼働ステータス:

    不明

    製品ID：

    14632

    ウェーハサイズ：

    12"/300mm

    ヴィンテージ：

    不明

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    Logistics Support
    Available
    Money Back Guarantee
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
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    KLA SpectraCD-XT
    KLASpectraCD-XTMetrology
    ヴィンテージ： 0状態： 中古
    最終確認60日以上前

    KLA

    SpectraCD-XT

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    最終検証： 60日以上前
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    In February 2006, KLA introduced the SpectraCD-XT—our fourth-generation of inline optical CD metrology systems for advanced patterning process control at the 90nm and 65nm nodes. SpectraCD-XT is a non-destructive dedicated CD and profile metrology system built on our high-throughput, production-proven Archer platform. The tool is the only high performance spectroscopic ellipsometry (SE)-based
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    Metrologyヴィンテージ： 0状態： 中古最終検証： 60日以上前