メインコンテンツにスキップ
市場 > Profiler > KLA > HRP-200

HRP-200

カテゴリ
Profiler
概要(Overview)

The Tencor HRP-200 High-Resolution Profiler is a fully-automated system that provides global and local analysis of wafer surface topography. It can measure surface topography on both macroscopic and microscopic scales, combining long scans with fine-area analysis of submicron features. It allows process engineers to quickly compare feature depths and relative surface heights. It also combines the measurement repeatability and ease of use of a Tencor stylus profiler with the high-resolution analysis and imaging capabilities of an Atomic Force Microscope (AFM).

現在の掲載品

0

サービス

検査、保証、鑑定、ロジスティクス

トップ掲載リスト

    製品が見つかりません
このような製品をお持ちですか?
Moovに掲載品して、すぐに申し分ない購入者を見つけましょう。