説明
Critical Dimension (CD) Measurement (non SEM)構成
構成なしOEMモデルの説明
The SpectraShape 9000 utilizes an array of optical technologies and a new high intensity light source to characterize and monitor the critical dimension (CD) and shapes of 3-D transistors, memory cells and other complex features used in high-performance IC devices.ドキュメント
ドキュメントなし
カテゴリ
Metrology
最終検証： 30日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
134956
ウェーハサイズ：
12"/300mm
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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KLA
SpectraShape 9000
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Metrology
最終検証： 30日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
134956
ウェーハサイズ：
12"/300mm
ヴィンテージ：
不明
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Available
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Available
説明
Critical Dimension (CD) Measurement (non SEM)構成
構成なしOEMモデルの説明
The SpectraShape 9000 utilizes an array of optical technologies and a new high intensity light source to characterize and monitor the critical dimension (CD) and shapes of 3-D transistors, memory cells and other complex features used in high-performance IC devices.ドキュメント
ドキュメントなし