説明
Metal Thickness Measurement構成
Metal Thickness MeasurementOEMモデルの説明
MetaPULSE-III 300 is designed specifically to meet semiconductor manufacturers' metal thin-film metrology requirements at the 45 nm technology node and beyond. The modular design of the MetaPULSE-III offers Rudolph's patented PULSE Technology.ドキュメント
ドキュメントなし
ONTO / RUDOLPH / AUGUST
MetaPULSE-III 300
検証済み
カテゴリ
Metrology
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
75930
ウェーハサイズ：
12"/300mm
ヴィンテージ：
不明
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Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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MetaPULSE-III 300
検証済み
カテゴリ
Metrology
最終検証： 30日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
75930
ウェーハサイズ：
12"/300mm
ヴィンテージ：
不明
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MetaPULSE-III 300 is designed specifically to meet semiconductor manufacturers' metal thin-film metrology requirements at the 45 nm technology node and beyond. The modular design of the MetaPULSE-III offers Rudolph's patented PULSE Technology.ドキュメント
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