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PROVE

カテゴリ
Metrology
概要(Overview)

PROVE® the next generation registration and overlay metrology system was successfully introduced into the market in 2010. It enables in-die measurement capability by means of high-resolution 193 nm optics, as well as optimized illumination for best contrast and pellicle compatibility.

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検査、保証、鑑定、ロジスティクス

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