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HITACHI TM-1000
    説明
    Condition: Known issues
    構成
    Tabletop SEM
    OEMモデルの説明
    The "TM-1000" allows for stereoscopically morphological observation with high resolution and a greater depth of focus which are not available with an optical microscope. The "TM-1000" uses backscattered electrons (BSE) for image observation.
    ドキュメント

    ドキュメントなし

    HITACHI

    TM-1000

    verified-listing-icon

    検証済み

    カテゴリ
    Microscope

    最終検証: 60日以上前

    主なアイテムの詳細

    状態:

    Used


    稼働ステータス:

    Deinstalled


    製品ID:

    103856


    ウェーハサイズ:

    不明


    ヴィンテージ:

    不明


    Have Additional Questions?
    Logistics Support
    Available
    Money Back Guarantee
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
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    HITACHI TM-1000

    HITACHI

    TM-1000

    Microscope
    ヴィンテージ: 0状態: 中古
    最終確認60日以上前

    HITACHI

    TM-1000

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    検証済み
    カテゴリ
    Microscope
    最終検証: 60日以上前
    listing-photo-4f9cf53f898f4ceba3343ba5587181f9-https://media-moov-co.s3.us-west-1.amazonaws.com/user_media/listingPhoto/1684/4f9cf53f898f4ceba3343ba5587181f9/94c09ccb9c834db6973300610deb9914_a1b2e5c97e11418fa4285eab769a31a41201a_mw.jpeg
    listing-photo-4f9cf53f898f4ceba3343ba5587181f9-https://media-moov-co.s3.us-west-1.amazonaws.com/user_media/listingPhoto/1684/4f9cf53f898f4ceba3343ba5587181f9/ebd8f30ecdd94208a14162872e627a02_fde9bc8c9ecb4f46832fe9d435ca6ad9_mw.jpeg
    主なアイテムの詳細

    状態:

    Used


    稼働ステータス:

    Deinstalled


    製品ID:

    103856


    ウェーハサイズ:

    不明


    ヴィンテージ:

    不明


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    Logistics Support
    Available
    Money Back Guarantee
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
    説明
    Condition: Known issues
    構成
    Tabletop SEM
    OEMモデルの説明
    The "TM-1000" allows for stereoscopically morphological observation with high resolution and a greater depth of focus which are not available with an optical microscope. The "TM-1000" uses backscattered electrons (BSE) for image observation.
    ドキュメント

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