説明
Wafer Inspection Microscope構成
構成なしOEMモデルの説明
提供なしドキュメント
ドキュメントなし
カテゴリ
Microscope
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
133162
ウェーハサイズ：
8"/200mm, 12"/300mm
ヴィンテージ：
2002
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
LEICA / VISTEC / RAITH
POLYVAR SC
カテゴリ
Microscope
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
133162
ウェーハサイズ：
8"/200mm, 12"/300mm
ヴィンテージ：
2002
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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Wafer Inspection Microscope構成
構成なしOEMモデルの説明
提供なしドキュメント
ドキュメントなし