説明
説明なし構成
構成なしOEMモデルの説明
The microscope is primarily intended for inspection of wafers or chips after development and/or evaporation. It is equipped with an incident (epi) illuminating unit (light is coming from above the specimen) with a Differential Interference Contrast option. It is also equipped with Dark Field option.ドキュメント
ドキュメントなし
カテゴリ
Microscope
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
108123
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
NIKON
ECLIPSE ME600
カテゴリ
Microscope
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
108123
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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説明なし構成
構成なしOEMモデルの説明
The microscope is primarily intended for inspection of wafers or chips after development and/or evaporation. It is equipped with an incident (epi) illuminating unit (light is coming from above the specimen) with a Differential Interference Contrast option. It is also equipped with Dark Field option.ドキュメント
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