説明
Atomic Force Microscope (AFM) controller構成
構成なしOEMモデルの説明
Scanning probe microscopy (SPM) and atomic force microscopy (AFM) controllersドキュメント
ドキュメントなし
カテゴリ
Microscope
最終検証： 4日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
151587
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS
NanoScope IVa
カテゴリ
Microscope
最終検証： 4日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
151587
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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Atomic Force Microscope (AFM) controller構成
構成なしOEMモデルの説明
Scanning probe microscopy (SPM) and atomic force microscopy (AFM) controllersドキュメント
ドキュメントなし