説明
説明なし構成
構成なしOEMモデルの説明
The Orion NanoFab Helium Ion Microscope (HIM) operates using ionized Helium or Neon gases rather than electrons for imaging and milling of materials. Helium is typically used for imaging and milling very thin films (e.g. graphene), with a spot size ~0.5 nm. Neon is is heavier, and thus better adapted for milling bulk materials and thin films with a spot size of ~2 nm.ドキュメント
ドキュメントなし
ZEISS / CARL ZEISS
ORION NanoFab
検証済み
カテゴリ
Microscope
最終検証： 30日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
113452
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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ORION NanoFab
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Microscope
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The Orion NanoFab Helium Ion Microscope (HIM) operates using ionized Helium or Neon gases rather than electrons for imaging and milling of materials. Helium is typically used for imaging and milling very thin films (e.g. graphene), with a spot size ~0.5 nm. Neon is is heavier, and thus better adapted for milling bulk materials and thin films with a spot size of ~2 nm.ドキュメント
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