説明
Overlay Measurement System構成
構成なしOEMモデルの説明
The YieldStar 1375F delivers nanometer-level overlay and CD measurements based on diffraction from chip structures themselves or small targets placed within the chip design.ドキュメント
ドキュメントなし
カテゴリ
Overlay
最終検証： 19日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
147631
ウェーハサイズ：
12"/300mm
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
ASML
YieldStar 1375F
カテゴリ
Overlay
最終検証： 19日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
147631
ウェーハサイズ：
12"/300mm
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
説明
Overlay Measurement System構成
構成なしOEMモデルの説明
The YieldStar 1375F delivers nanometer-level overlay and CD measurements based on diffraction from chip structures themselves or small targets placed within the chip design.ドキュメント
ドキュメントなし