説明
Test Handler構成
構成なしOEMモデルの説明
Flexible Test and Scan Solution for FFC Devices. 32-position turret test and scan platform for semiconductors on film-frame wafer media, providing the highest inspection yield for wafer-level chip scale and bare dies. Integrating innovative hardware and software technologies such as intelligent features that enable extended autonomous operation and productivity. A complete finishing solution with full vision inspection, test contacting, with up to 12″ Wafer Input with 180° Flip-Chip under Turret.ドキュメント
ドキュメントなし
カテゴリ
Packaging
最終検証： 30日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
135634
ウェーハサイズ：
8"/200mm
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
COHU / ISMECA
NY32W
カテゴリ
Packaging
最終検証： 30日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
135634
ウェーハサイズ：
8"/200mm
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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Test Handler構成
構成なしOEMモデルの説明
Flexible Test and Scan Solution for FFC Devices. 32-position turret test and scan platform for semiconductors on film-frame wafer media, providing the highest inspection yield for wafer-level chip scale and bare dies. Integrating innovative hardware and software technologies such as intelligent features that enable extended autonomous operation and productivity. A complete finishing solution with full vision inspection, test contacting, with up to 12″ Wafer Input with 180° Flip-Chip under Turret.ドキュメント
ドキュメントなし