S300
カテゴリ
Probers概要(Overview)
Supports wafer sizes and shards from 0.5 in. (1 mm) to up to 12 in. (300mm) Semi-Automatic Probe Station
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サービス
検査、保証、鑑定、ロジスティクス
Supports wafer sizes and shards from 0.5 in. (1 mm) to up to 12 in. (300mm) Semi-Automatic Probe Station
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検査、保証、鑑定、ロジスティクス