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TESLA300

カテゴリ
Probers
概要(Overview)

300 mm On-Wafer Power Semiconductor Probing System. The TESLA300 Advanced On-Wafer Power Semiconductor Probe System is an integrated high-power test solution that enables collection of accurate high-voltage and high-current measurement data, with complete operator safety.

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検査、保証、鑑定、ロジスティクス

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