XP-1
カテゴリ
Profiler概要（Overview）
The AMBIOS XP-I profilometer allows the analysis of surface roughness with nanometer depth resolution using an adjustable needle pressure force in the range of 0.05 to 10 mg.
現在の掲載品
1
サービス
検査、保証、鑑定、ロジスティクス
The AMBIOS XP-I profilometer allows the analysis of surface roughness with nanometer depth resolution using an adjustable needle pressure force in the range of 0.05 to 10 mg.
1
検査、保証、鑑定、ロジスティクス
