説明
説明なし構成
- Max. Scan Length : 30 mm - Max. Data Points : 120,000 - Stylus Force : 0.03~10mg (programmable) - 2.5 um Stylus Tip Radius Standard - Color Camera with fixed zoom 100X - Sample Thickness : 20 mm max. - Sample Size : 140mm diameter max. - Sample Translation : Manual Stage, X,Y Stage - 360 degree Rotation Stage(Manual) - Vertical Range : 400um - Vertical Resolution : 1 Å - 5Å RepeatabilityOEMモデルの説明
The AMBIOS XP-I profilometer allows the analysis of surface roughness with nanometer depth resolution using an adjustable needle pressure force in the range of 0.05 to 10 mg.ドキュメント
ドキュメントなし
カテゴリ
Profiler
最終検証： 3日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
155034
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
AMBIOS TECHNOLOGY, INC
XP-1
カテゴリ
Profiler
最終検証： 3日前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
155034
ウェーハサイズ：
不明
ヴィンテージ：
不明
Logistics Support
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
説明
説明なし構成
- Max. Scan Length : 30 mm - Max. Data Points : 120,000 - Stylus Force : 0.03~10mg (programmable) - 2.5 um Stylus Tip Radius Standard - Color Camera with fixed zoom 100X - Sample Thickness : 20 mm max. - Sample Size : 140mm diameter max. - Sample Translation : Manual Stage, X,Y Stage - 360 degree Rotation Stage(Manual) - Vertical Range : 400um - Vertical Resolution : 1 Å - 5Å RepeatabilityOEMモデルの説明
The AMBIOS XP-I profilometer allows the analysis of surface roughness with nanometer depth resolution using an adjustable needle pressure force in the range of 0.05 to 10 mg.ドキュメント
ドキュメントなし