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KLA / THERMA-WAVE TP-630
    説明
    説明なし
    構成
    構成なし
    OEMモデルの説明
    The Therma-Wave TP-630 possesses state-of-the-art ion implant measurement technology for wafer sizes up to 300 millimeters. It has expanded wafer measurement capability to handle the new 300 millimeter silicon wafers, in addition to traditional 200 millimeter wafers.
    ドキュメント

    ドキュメントなし

    KLA / THERMA-WAVE

    TP-630

    verified-listing-icon

    検証済み

    カテゴリ
    Reticle / Mask Inspection

    最終検証: 21日前

    主なアイテムの詳細

    状態:

    Parts Tool


    稼働ステータス:

    不明


    製品ID:

    115191


    ウェーハサイズ:

    不明


    ヴィンテージ:

    不明


    Have Additional Questions?
    Logistics Support
    Available
    Money Back Guarantee
    Available
    Transaction Insured by Moov
    Available
    Refurbishment Services
    Available
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    KLA / THERMA-WAVE TP-630

    KLA / THERMA-WAVE

    TP-630

    Reticle / Mask Inspection
    ヴィンテージ: 0状態: 部品ツール
    最終確認21日前

    KLA / THERMA-WAVE

    TP-630

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    検証済み
    カテゴリ
    Reticle / Mask Inspection
    最終検証: 21日前
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    状態:

    Parts Tool


    稼働ステータス:

    不明


    製品ID:

    115191


    ウェーハサイズ:

    不明


    ヴィンテージ:

    不明


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    構成
    構成なし
    OEMモデルの説明
    The Therma-Wave TP-630 possesses state-of-the-art ion implant measurement technology for wafer sizes up to 300 millimeters. It has expanded wafer measurement capability to handle the new 300 millimeter silicon wafers, in addition to traditional 200 millimeter wafers.
    ドキュメント

    ドキュメントなし

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    KLA / THERMA-WAVE TP-630

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    TP-630

    Reticle / Mask Inspectionヴィンテージ: 0状態: 部品ツール最終検証:21日前