説明
Wafer and Mask Inspection and Measurement構成
構成なしOEMモデルの説明
提供なしドキュメント
ドキュメントなし
KLA / VISTEC / LEICA
MIS SP200
検証済み
カテゴリ
Reticle / Mask Inspection
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
41227
ウェーハサイズ：
8"/200mm
ヴィンテージ：
1993
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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MIS SP200
カテゴリ
Reticle / Mask Inspection
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
41227
ウェーハサイズ：
8"/200mm
ヴィンテージ：
1993
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