説明
説明なし構成
構成なしOEMモデルの説明
Light source: Argon ion laser Detecting/scanning method: Scattered light detecting / helical scanning method Detectivity: Bare 0.055 microns / film 0.07 microns Dynamic range: 0.055 microns to 5 microns Reproducibility: σn /≦1% Wafer Size 200/150mmドキュメント
ドキュメントなし
TAKANO / TOPCON
WM-2500
検証済み
カテゴリ
Reticle / Mask Inspection
最終検証： 60日以上前
主なアイテムの詳細
状態：
Used
稼働ステータス:
不明
製品ID：
96886
ウェーハサイズ：
8"/200mm
ヴィンテージ：
不明
Have Additional Questions?
Logistics Support
Available
Money Back Guarantee
Available
Transaction Insured by Moov
Available
Refurbishment Services
Available
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Light source: Argon ion laser Detecting/scanning method: Scattered light detecting / helical scanning method Detectivity: Bare 0.055 microns / film 0.07 microns Dynamic range: 0.055 microns to 5 microns Reproducibility: σn /≦1% Wafer Size 200/150mmドキュメント
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